Сканирующий электронный микроскоп FlexSEM II / Hitachi SU1000 FlexSEM II 

Система EDX AzTec One

Настольная система для напыления металлом Leica EM ACE200

 

Год выпуска

2020

 

Технические характеристики

Ускоряющее напряжение: 0.3-20 кВ. Увеличение: X 6 – 300 000. Разрешение: 4 нм. Детекторы: BSE, SE (E-T), SE(UVD). 

Перемещение X, Y, Z, R, T. Максимальные размеры образца - 80 мм в диаметре, 40 мм в высоту. Наклон образца в диапазоне -15 – 90 гр.

Режимы: высокий или низкий вакуум.

Рентгеноспектральный анализатор AzTec (Oxford Instruments Analytical Ltd.)

Тип детектора/площадь: кремний-дрейфовый детектор/30 кв.мм Разрешение по энергии: 151 эВ (Cu-Kα), эквивалентно 129 эВ (Mn-Kα) 

Диапазон определяемых элементов: от B (5) до U (92). 

 

Назначение

Изучение поверхности образцов. Определение элементного состава образца.

 

Газовый хроматограф с пламенно-ионизационным детектором Agilent 6890, Agilent Technologies, США

Год выпуска

2002

Технические характеристики

Капиллярный хроматограф, температура термостата до 300оС, газ-носитель - гелий.

Назначение

хроматографический анализ летучих органических веществ, качественный и количественный анализ смесей веществ природного и антропогенного происхождения. 

Жидкостный хроматограф с детектором диодная матрица Agilent 1100, Agilent Technologies, США

Год выпуска

2002

Технические характеристики

Четырехкратная насосная система, термостатирование колонок, дегазатор, спектральный диапазон детектора - 190 - 900 нм.

Назначение

ВЭЖХ-анализ органических веществ. 

Хроматомасс-спектрометр с термодесорбером Agilent 5975-Gerstel, Agilent Technologies, США

Год выпуска

2006

Технические характеристики

Капиллярный хроматограф с квадрупольным масс-детектором с электронной ионизацией. 

Назначение

Анализ загрязнений атмосферы, воды и почв. 

Атомно-эмиссионный спектрометр Agilent 4100 MP-AES, Agilent Technologies, США

Год выпуска

2013

Технические характеристики

Спектральный диапазон от 178 до 780 нм

Спектральное разрешение (на уровне 50 % от интенсивности пика), не более 0,05 нм

Пределы обнаружения элементов (по критерию 3о), мкг/дм , не более 

Ba (Х= 614,171 нм)  5

Mn (Х= 403,076 нм)   5

Zn (Х= 213,857 нм)   15

Относительное среднеквадратическое отклонение (ОСКО) измерений массовой концентрации Ba, Mn, Zn, %, не более 3

Назначение

Анализ металлов и металлоидов в сложных элементоорганических соединениях, в составе функциональных веществ и материалов, в природных объектах различного происхождения.