Сканирующий электронный микроскоп FlexSEM II / Hitachi SU1000 FlexSEM II 

Система EDX AzTec One

Настольная система для напыления металлом Leica EM ACE200

Год выпуска

2020

Технические характеристики

Ускоряющее напряжение: 0.3-20 кВ. Увеличение: X 6 – 300 000. Разрешение: 4 нм. Детекторы: BSE, SE (E-T), SE(UVD). 

Перемещение X, Y, Z, R, T. Максимальные размеры образца - 80 мм в диаметре, 40 мм в высоту. Наклон образца в диапазоне -15 – 90 гр.

Режимы: высокий или низкий вакуум.

Рентгеноспектральный анализатор AzTec (Oxford Instruments Analytical Ltd.)

Тип детектора/площадь: кремний-дрейфовый детектор/30 кв.мм Разрешение по энергии: 151 эВ (Cu-Kα), эквивалентно 129 эВ (Mn-Kα) 

Диапазон определяемых элементов: от B (5) до U (92). 

Назначение

Изучение поверхности образцов. Определение элементного состава образца.