Институт органической химии им. Н.Д.Зелинского Российской академии наук и компания Интерлаб, являющаяся эксклюзивным дистрибьютором фирмы Hitachi High Technologies, инициируют программу краткосрочных научных и образовательных стажировок в области современной электронной микроскопии.
Тематика стажировки: исследование графеновых систем, углеродных нанотрубок, графита, других углеродных материалов и катализаторов, а также сложных композитных углерод-содержащих систем.
Требования к образцам:
- типы образцов: углеродные нанотрубки, графит, графеновые материалы, композитные материалы, углеродосодержащие системы, катализаторы;
- количество образца: 0,5-10 мг (параметры могут изменяться, в зависимости от образца и методики исследования);
- устойчивоть на воздухе и к действию органических растворителей.
Цель программы:
- предоставление российским ученым доступа к современным возможностям электронной микроскопии и микроанализа;
- стимулирование академической мобильности и коллективного использования научно-исследовательской инфраструктуры;
- стимулирование научных исследований в области изучения углеродных материалов.
Мы предоставляем:
- возможность доступа и обучения на современном научном оборудовании FE-SEM/STEM/EDS;
- уникальная возможность для исследования своих образцов. Результаты исследования могут быть использованы в научной и образовательной работе без ограничений. Стажировки проводятся бесплатно, и сотрудники центра коллективного пользования не будут входить в число соавторов публикаций. В случае опубликования результатов микроскопического исследования за проведенную стажировку сотрудникам центра коллективного пользования выражается благодарность;
- уникальная методика исследования реакционных центров углерода. Методика основана на использовании контрастного вещества - растворимого комплекса палладия - который избирательно прикрепляется к дефектным областям на поверхности углеродных материалов. Присоединение генерируемых в растворе кластеров палладия к поверхности углеродного материала приводит к образованию наночастиц металла, которые могут быть легко зафиксированы с использованием электронного микроскопа. Выделение дефектных центров на углеродной поверхности с помощью «Pd маркеров» дает уникальную возможность изучить реакционную способность слоев;
- ИОХ РАН бесплатно проводит измерения методом электронной микроскопии на оборудовании Центра коллективного пользования. В некоторых случаях организационные расходы во время стажировки (дорога и проживание) могут покрываться при финансовой поддержке организаторов по результатам конкурса в рамках данного Положения.
Критерии оценки заявок на конкурс на получение грантов для финансовой поддержки стажировок:
- стимулирование высокоимпактных междисциплинарных проектов, направленных на достижение прорывных результатов;
- развитие навыков в достижении практически важных результатов в области естественных наук и материаловедения;
- предоставление возможности выполнить исследование методом электронной микроскопии для соискателей, не имеющих доступа к современному микроскопическому оборудованию.
Оформление : полный комплект документов для заполнения, образцы для их заполнения представлены на сайте в разделе ОФОРМЛЕНИЕ
СРОКИ ПОДАЧИ ЗАЯВКИ
Рассмотрение заявок осуществляется по мере поступления, оценка заявок осуществляется не реже, чем один раз в месяц.
Рекомендуемые сроки подачи заявок -- 1-е и 15-е число каждого месяца.
Конкретные сроки стажировки обсуждаются в индивидуальном порядке для поддержанных заявок
Подробнее на сайте программы