| Реквизиты Института (2015 год) |
| Бланки внутренних общеинститутских документов |
| Приказ №3 от 15.01.2018 г. Об изменении бланков НИОХ СО РАН |
PDF |
15 января 2018 г. |
| бланк приказа по институту |
RTF |
10 сентября 2018 г. |
| продольный бланк письма |
RTF |
10 сентября 2018 г. |
| угловой бланк письма |
RTF |
10 сентября018 г. |
| бланк на ангийском языке |
RTF |
10 сентября 2018 |
| бланк доверенности |
RTF |
10 сентября 2018 г. |
| бланк зам.директора |
RTF |
10 января 2012 г. |
| Регламент по предоставлению отпуска |
RTF |
12 мая 2016 г. |
| Служебная записка (для направления в командировку) |
RTF |
06 апреля 2014 г. |
| Заявка-расчёт на командировку |
RTF |
06 апреля 2014 г. |
| Служебное задание (для направления в командировку и отчет о его выполнении) |
RTF |
01 апреля 2014 г. г. |
| Краткая инструкция для командированного |
PDF |
20 мая 2014 г. |
| Оплата оргвзносов |
PDF |
20 мая 2014 г. |
| Экспертное заключение о возможности опубликования |
RTF |
28 февраля 2017 г. |
| New! УВЕДОМЛЕНИЕ о создании в связи с выполнением трудовых обязанностей или конкретного задания работодателя охраноспособного результата интеллектуальной деятельности |
RTF |
8 ноября 2017 г. |
| New! Заявление о выдаче денег под отчет, Заявление о возмещении служебных расходов |
RTF |
8 февраля 2018 г. |
| Заявка в Тех. службы |
RTF |
26 июля 2013 г. |
| Бланки заявок на выполнение анализов и физико-химических измерений |
| на газо-хроматографический анализ |
PDF |
25 апреля 2013 г. |
| на элементный анализ (микроанализ) |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию спектров ЯМР |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию ИК-спектров |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию электронных спектров (UV/Vis) |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию масс-спектров (DFS) |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на поляриметр |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию газовых хромато-масс-спектрограмм |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на регистрацию жидкостных хромато-масс-спектрограмм |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на флуориметр |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
| на электронный микроскоп |
PDF |
16 декабря 2010 г. |
