Бланки заявок и образцы документов, используемых в НИОХ СО РАН
Название документа | формат | дата создания/ обновления |
Реквизиты Института | ||
Бланки внутренних общеинститутских документов | ||
Приказ №3 от 15.01.2018 г. Об изменении бланков НИОХ СО РАН | 15 января 2018 г. | |
бланк приказа по институту | RTF | 10 сентября 2018 г. |
продольный бланк письма | RTF | 10 сентября 2018 г. |
угловой бланк письма | RTF | 10 сентября018 г. |
бланк на ангийском языке | RTF | 10 сентября 2018 |
бланк доверенности | RTF | 10 сентября 2018 г. |
бланк зам.директора | RTF | 10 января 2012 г. |
Регламент по предоставлению отпуска | DOC | 23 апреля 2019 г. |
Оформление командировки | ||
1. Положение о служебных командировках | 16 ноября 2020 г. | |
2. Инструкция по оформлению командировки | 20 декабря 2018 г. | |
3. Служебная записка с заявлением на аванс и памяткой | docx | 31 сентября 2019 г. |
4. Заявление о возмещении командировочных расходов (без аванса) | docx | 20 декабря 2018 г. |
5. Реестр документов | docx | 20 декабря 2018 г. |
Приказ №54 от 13.07.2020 О назначении постоянно действующей комиссии по выводу и приемке в эксплуатацию перепрофилированных и вновь оборудованных после ремонта объектов лабораторного и производственного назначения Института | ||
New! План размещения оборудования в помещении | DOCX | 20 июля 2020 г. |
New! Дефектная ведомость | DOCX | 20 июля 2020 г. |
New! Акт приемки в эксплуатацию | DOCX | 20 июля 2020 г. |
Оформление экспертного заключения | ||
Экспертное заключение о возможности опубликования | RTF | 20 января 2019 г. |
УВЕДОМЛЕНИЕ о создании в связи с выполнением трудовых обязанностей или конкретного задания работодателя охраноспособного результата интеллектуальной деятельности | RTF | 8 ноября 2017 г. |
Заявление о выдаче денег под отчет, Заявление о возмещении служебных расходов | RTF | 8 февраля 2018 г. |
Заявка в Тех. службы | RTF | 26 июля 2013 г. |
Бланки заявок на выполнение анализов и физико-химических измерений | ||
на газо-хроматографический анализ | 25 апреля 2013 г. | |
на элементный анализ (микроанализ) | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию спектров ЯМР | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию ИК-спектров | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию электронных спектров (UV/Vis) | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию масс-спектров (DFS) | 16 декабря 2010 г. | |
на поляриметр | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию газовых хромато-масс-спектрограмм | 16 декабря 2010 г. | |
на регистрацию жидкостных хромато-масс-спектрограмм | 16 декабря 2010 г. | |
на флуориметр | 16 декабря 2010 г. | |
на электронный микроскоп | 16 декабря 2010 г. |